【成果】MOSFETのノイズを広い周波数帯域で観測

ナノテク拠点産学独連携人材育成プログラム専任教員である大毛利健治准教授(筑波大学数理物質系)らのグループは、ディー・クルー・テクノロジーズ株式会社,東京工業大学とともに、トランジスタの雑音を広い周波数帯域にわたって容易に計測する技術を開発しました。

●筑波大学プレスリリース
「独自技術の雑音プローブに開発したICを搭載し,電子デバイスの雑音特性を広帯域で計測可能に」

以下の媒体でも紹介されました。
■日経Tech-On
http://techon.nikkeibp.co.jp/article/EVENT/20130617/288301/

■日刊工業新聞(紙面版にも掲載)
http://www.nikkan.co.jp/news/nkx0720130611eaah.html

■朝日新聞
http://www.asahi.com/tech_science/nikkanko/NKK201306110015.html

■マイナビニュース
http://news.mynavi.jp/news/2013/06/11/041/index.html

 

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